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銅仁三坐標_75左右三坐標_欣晟泰(多圖)：

簡稱CMM，自六十年代中期三坐標測量儀問世以來，隨著計算機技術的進步以及電子控制系統、檢測技術的發展，三坐標測量儀報價，為測量機向高精度、高速度方向發展提供了強有力的技術支持。

CMM按測量方式可分為接觸測量和非接觸測量以及接觸和非接觸并用式測量，接觸測量常于測量機械加工產品以及壓制成型品、金屬膜等。本文以接觸式測量機為例來說明幾種掃描物體表面，以獲取數據點的幾種方法，數據點結果可用于加工數據分析，也可為逆向工程技術提供原始信息。掃描指借助測量機應用軟件在被測物體表面特定區域內進行數據點采集。此區域可以是一條線、一個面片、零件的一個截面、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。掃描類型與測量模式、測頭類型及是否有CAD文件等有關，狀態按紐（手動/DCC）決定了屏幕上可選用的“掃描”（SCAN）選項。若用DCC方式測量，75左右三坐標，又具有CAD文件，那么掃描方式有“開線”（OPEN LINEAR）、“閉線”（CLOSED LINEAR）、“面片”（PATCH）、“截面”（SECTION）及“周線”（PERIMETER）掃描。若用DCC方式測量，而只有線框型CAD文件，那么可選用 “開線”（OPEN LINEAR）、“閉線”（CLOSED LINEAR）和“面片”（PATCH）掃描方式。若用手動測量模式，那么只能用基本的“手動觸發掃描”（MANUL TTP SCAN）方式。若在手動測量方式，測頭為剛性測頭，那么可用選項為“固定間隔”（FIXED DELTA）、“變化間隔”（VARIABLE DELTA）、“時間間隔”（TIME DELTA）和“主體軸向掃描”（BODY AXIS SCAN）方式。

　三坐標在國標中同軸度公差帶的定義是指直徑公差為值t，且3D影像測量與三坐標測量儀的基準軸線同軸的圓柱面內的有區域。它有以下三種控制要素：①軸線與軸線；②軸線與公共軸線；③圓心與圓心。

2.5次元在影響同軸度的主要因素有被測元素與基準元素的圓心位置和軸線方向，特別是軸線方向。如在基準圓柱上測量兩個截面圓，用其連線作基準軸。在被測圓柱上也測量兩個截面圓，構造一條直線，然后計算同軸度。假設基準上兩個截面的距離為10 mm，基準截面與被測圓柱截面的距離為100 mm，如果基準的第二截面圓的圓心位置與截面圓圓心有5μm的測量誤差，那么基準軸線延伸到被測圓柱截面時已偏離50μm（5μmx100÷10），此時，二次元和2.5次元即使被測圓柱與基準完全同軸，銅仁三坐標，其結果也會100μm的誤差（同軸度公差值為直徑，50μm是半徑.

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